瑞士丹青進(jìn)口白光干涉微觀形貌粗糙度儀

瑞士丹青Compact WLI白光干涉微觀形貌及粗糙度儀是用于記錄3D形貌光學(xué)測(cè)量技術(shù)，其分辨率高達(dá)納米級(jí)。測(cè)量點(diǎn)平行采集和處理，大面積的高度信息可以在很短時(shí)間內(nèi)采集。研究和質(zhì)量管理過(guò)程中的典型應(yīng)用有：物體表面的不同粗糙度特性（晶圓結(jié)構(gòu)、鏡面、玻璃、金屬等）、確定高度變化以及曲面的精密測(cè)量（如微透鏡等）。

WLI白光干涉?zhèn)鞲衅魈攸c(diǎn)：

直接3D測(cè)量 非?？焖?高精度，分辨率0.1nm 2.5x~100x干涉鏡頭 50x以上干涉鏡頭用于高反射表面 集成拼接功能 測(cè)量范圍最大400µm 適用于所有材料  高速壓電陶瓷Z軸 2百萬(wàn)或5百萬(wàn)像素?cái)z像頭(根據(jù)測(cè)量需求配置) Trimos提供基于WLI技術(shù)的優(yōu)良解決方案并通過(guò)  Trimos Nanoware測(cè)量軟件對(duì)整個(gè)測(cè)量過(guò)程進(jìn)行控制和分析。 Trimos在本領(lǐng)域進(jìn)行了廣泛的研究并積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)，因而能提供高效、穩(wěn)定、精確的分析算法。

瑞士丹青進(jìn)口白光干涉微觀形貌粗糙度儀

瑞士丹青TR-SCAN微觀形貌光學(xué)粗糙度測(cè)量?jī)x，廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查。與傳統(tǒng)非接觸測(cè)量技術(shù)相比，測(cè)量速度快，對(duì)振動(dòng)不敏感，實(shí)現(xiàn)三維形貌納米級(jí)測(cè)量。模塊化的設(shè)計(jì)理念，可配置色譜共焦傳感器，白光干涉?zhèn)鞲衅鳌鞲衅髦苯痈鼡Q，方便快捷，滿足不同的應(yīng)用領(lǐng)域。即可用于計(jì)量單位和材料科學(xué)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，也廣泛應(yīng)用在工業(yè)制造領(lǐng)域：汽車(chē)、航天、航空、表面涂層、醫(yī)療產(chǎn)品、微型電機(jī)系統(tǒng)、半導(dǎo)體等行業(yè)。